Otomatik enspeksyon X-ray (AXI) se yon teknoloji ki baze sou prensip yo menm jan ak otomatik enspeksyon optik (AOI). Li itilize radyografi kòm sous li yo, olye pou yo limyè vizib, otomatikman enspekte karakteristik, ki yo, se tipikman kache nan vi.
Yo itilize enspeksyon otomatik X-ray yo nan yon pakèt domèn endistri yo ak aplikasyon yo, majorite ak de objektif pi gwo:
Pwosesis optimize, sa vle di rezilta yo nan enspeksyon an yo te itilize optimize etap sa yo pwosesis,
Deteksyon anomali, sètadi rezilta enspeksyon an sèvi kòm yon kritè pou rejte yon pati (pou bouyon oswa re-travay).
Tou AOI se sitou ki asosye ak manifakti elektwonik (akòz itilize toupatou nan manifakti PCB), AXI gen yon seri pi laj nan aplikasyon yo. Li chenn nan chèk la bon jan kalite nan wou alyaj nan deteksyon an nan fragman zo nan vyann trete. Kèlkeswa kote yon gwo kantite atik ki sanble anpil yo pwodwi dapre yon estanda defini, enspeksyon otomatik lè l sèvi avèk avanse pwosesis imaj ak lojisyèl rekonesans modèl (vizyon òdinatè) te vin yon zouti itil asire bon jan kalite ak amelyore sede nan pwosesis ak manifakti.
Avèk avansman nan lojisyèl pwosesis imaj nimewo aplikasyon yo pou otomatik ki fonksyone X-ray enspeksyon se gwo ak toujou ap grandi. Premye aplikasyon yo te kòmanse nan endistri yo kote aspè sekirite nan konpozan mande yon enspeksyon atansyon nan chak pati pwodwi (egzanp kouti soude pou pati metal nan estasyon fòs nikleyè) paske teknoloji a te espere trè chè nan konmansman an. Men, avèk pi laj adopsyon teknoloji a, pri yo te desann anpil epi yo te louvri enspeksyon otomatik X-ray jiska yon jaden ki pi laj- ki pasyèlman alimenté ankò pa aspè sekirite (egzanp deteksyon nan metal, vè oswa lòt materyèl nan manje trete) oswa ogmante sede ak optimize pwosesis (eg deteksyon nan gwosè ak kote nan twou nan fwomaj optimize modèl tranche).[4]
Nan pwodiksyon an mas nan atik konplèks (egzanp nan manifakti elektwonik), yon deteksyon byen bonè nan domaj ka byen wo diminye pri an jeneral, paske li anpeche pati ki defektye nan men yo te itilize nan etap manifakti ki vin apre. This results in three major benefits: a) it provides feedback at the earliest possible state that materials are defective or process parameters got out of control, b) it prevents adding value to components that are already defective and therefore reduces the overall cost of a defect, and c) it increases the likelihood of field defects of the final product, because the defect may not be detected at later stages in quality inspection or during functional testing due to the limited set of test modèl.
Post tan: Dec-28-2021