Pi gwo sistèm CT Ewòp la sou konstriksyon

Pifò nan endistriyèl CT genyenEstrikti granit. Nou ka fabrikeAsanble baz machin granit ak ray ak visPou Ray Custom X ou ak CT.

Optotom ak Nikon metroloji te genyen sansib la pou livrezon an nan yon gwo-anvlòp X-ray calculée sistèm tomografi nan Kielce University of Technology nan Polòy. Sistèm Nikon M2 a se yon sistèm enspeksyon ki gen gwo presizyon, ki prezante yon patante, ultra-egzak ak ki estab 8-aks manipulateur bati sou yon baz granit metroloji-klas.

Tou depan de aplikasyon an, itilizatè a ka chwazi ant 3 sous diferan: inik Nikon a 450 kV microfocus sous ak wotasyon sib eskane gwo ak gwo dansite echantiyon ak rezolisyon mikrometrik, yon 450 kV minifocus sous pou gwo vitès analysis ak yon 225 kV microfocus sous ak wotasyon sib pou pi piti echantiyon. Sistèm lan pral ekipe ak tou de yon detektè panèl plat ak Nikon propriétaires a koube lineyè etalaj dyòd (CLDA) detektè ki optimize koleksyon an nan radyografi san yo pa kaptire endezirab yo gaye X, ki kapab lakòz yon imaj sansasyonèl ak kontras.

M2 a se ideyal pou enspeksyon an nan pati sòti nan gwosè soti nan ti, ki ba-dansite echantiyon nan gwo, segondè-dansite materyèl yo. Enstalasyon an nan sistèm lan pral pran plas nan yon bunker espesyal objektif-bati. Mi yo 1,2 m yo deja prepare pou amelyorasyon nan lavni nan pi wo chenn enèji. Sistèm sa a plen-opsyon pral youn nan pi gwo sistèm yo M2 nan mond lan, ofri Kielce Inivèsite ekstrèm fleksibilite sipòte tout aplikasyon posib soti nan tou de rechèch ak endistri lokal la.